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        Bruker 光學輪廓儀

        庫       存:

        1

        產       地:

        美國

        數       量:

        減少 增加

        價       格:

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        品牌:

        型號:

        所屬系列:半導體測試設備-表面形貌測試-表面輪廓儀

         布魯克 (Bruker) 是表面測量和檢測技術的全球領導者,服務于科研和生產領域。新一代白光干涉儀ContourGT系列結合了先進的64位多核操作和分析處理軟件,專利技術白光干涉儀(WLI)硬件和前所未有的操作簡易性,是歷年來來最先進的3D光學表面輪廓儀系統。該系統擁有超大視野內亞埃級至毫米級的垂直計量范圍,樣品安裝靈活,且具有業界最高的測量重復性。ContourGT系列是當今生產研究和質量控制應用中,最廣泛使用和最直觀的3D表面計量平臺。

         

        應用:

            對LED行業、太陽能行業、觸摸屏行業、半導體行業以及數據存儲行業等,提供全方位非接觸式測量方案,樣品從小至微米級別的微機電器件(MEMS),大到整個引擎部件,都可以獲得表面形貌、粗糙度、三維輪廓等精準數據

         

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        提問:
         

        你這個是不是雙光源照明的?多少種分析工具?

        peert  2017-08-09

        X向光柵分辨率,零件直徑范圍多大?

        mund  2017-08-15

        應用于半導體行業的相關同類產品:

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        4001027270

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