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        半自動探針臺(200 mm Semi-Auto Probe Station)

        產品品牌

        ADVANCED

        庫       存:

        50

        產       地:

        臺灣

        數       量:

        減少 增加

        價       格:

        面議
        交易保障 擔保交易 網銀支付

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        品牌:ADVANCED

        型號:

        所屬系列:半導體測試設備-電學性能測試-半自動探針臺


              半自動探針臺(200 mm Semi-Auto Probe Station)

        八英電動移動平臺

        X-Y-Z-R移動行程分別為200mm/200mm/30mm/15degree

        X-Y-Z移動精度1um;R:0.01degree

        機臺由PC控制,軟件可以建立wafer map

        系統可以根據工程人員建立的wafer map自動點針

        系統可以搭配高倍顯微鏡和體式顯微鏡兩種光學系統

        光學部分搭配100萬象素的數字CCD

        系統具有自動校驗功能

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