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        手動高低溫探針臺 HMP-800SC 可測8’’晶圓 HMP-1200SC 可測12’’晶圓

        產品品牌

        上海起南

        庫       存:

        100

        產       地:

        全國

        數       量:

        減少 增加

        價       格:

        面議
        交易保障 擔保交易 網銀支付

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        ¥10000.00

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        品牌:上海起南

        型號:

        所屬系列:半導體測試設備-電學性能測試-手動探針臺

        手動高低溫探針臺
         
        型號:HMP-800SC 可測8’’晶圓
        型號:HMP-1200SC 可測12’’晶圓
         
        此款手動探針臺系統針對于新一代半導體裝置設計,非常低的噪音和低的漏電流。在這個系統中,屏蔽的樣品腔包含探針和樣品臺全部都在EMI屏蔽環境中。此系統支持超低信號測試,1/f噪音測試,S參量測試,和高速I-V測試在控溫變溫環境中從-60℃到300℃(或者特殊環境到400℃)
        此探針臺系統可選支持高電流和高電壓功率測試。
        HMP-610SC 6’’晶圓可選。
         
        應用:
        溫度范圍:室溫到300℃或-60℃到300
        超低信號I-V測量(fA級)
        各種C-V測量(準靜態C-V, HF-CV,RF-CV[sub pF]
        1/f噪音評估
        RTN(自由電子噪音)評估
        高頻噪音評估(到800MHz
        RF測量(到67GHz/S 參數測量
        超高速I-V測量
        擴展應用:
        支持探卡(支持多點位晶圓可靠性測試WLR
        光電子中光接收/發散特性評估應用(如:LED,LD,VCSEL,PD
        高功率元器件測量(200A脈沖,+/-3kV三軸,+/-10kV同軸)
        晶圓的可靠性測試(如:EM,TDDB,HCI,NBTI,BT

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